主板驅(qū)動(dòng)老化測(cè)試房可以模擬低溫、高溫的老化試驗(yàn)，讓產(chǎn)品在此環(huán)境中接上模擬負(fù)載通電運(yùn)作，測(cè)試時(shí)間可在0-99.9小時(shí)內(nèi)任意設(shè)定，通過此測(cè)試程序可查出不良品或不良零件。主板驅(qū)動(dòng)老化測(cè)試的測(cè)試流程怎么做呢，下面，我們來看看主板驅(qū)動(dòng)老化測(cè)試方法。

主板驅(qū)動(dòng)老化測(cè)試房的測(cè)試流程：

一、設(shè)備準(zhǔn)備：

試驗(yàn)設(shè)備：環(huán)儀儀器 主板驅(qū)動(dòng)老化測(cè)試房

供電模塊：檢查供電模塊。

控制模塊：如ARM Cortex-M0內(nèi)核單片機(jī)已正確連接并初始化。

電流檢測(cè)模塊：驗(yàn)證霍爾電流傳感器的連接和功能。

模擬量輸入/輸出模塊：檢查模擬量輸入控制單元和數(shù)字量輸出控制單元的連接和功能。

顯示模塊：確保LED指示燈和數(shù)碼管顯示器連接正確，并能正常工作。

通信模塊：確認(rèn)通信模塊（如UART）能夠與上位機(jī)通信。

二、上電初始化：

將待測(cè)主板放入老化測(cè)試房中，連接供電模塊和電流檢測(cè)模塊。控制模塊上電初始化，采集電流傳感器的初始值，并將初值保存記錄。

三、上電測(cè)試：

開始對(duì)多路電流值進(jìn)行輪流掃描采樣，將采樣值與初值進(jìn)行比較，判斷是否有測(cè)試回路接通，以此識(shí)別是否上電成功。如果上電成功，則控制對(duì)應(yīng)的LED指示燈常亮響應(yīng)。

四、功能測(cè)試：

在執(zhí)行老化測(cè)試時(shí)，例如補(bǔ)光燈、加熱電阻、電機(jī)轉(zhuǎn)向等功能的開啟和關(guān)閉測(cè)試，可以通過本實(shí)施例中的測(cè)試系統(tǒng)對(duì)各路電流值進(jìn)行分時(shí)、區(qū)間采樣，通過現(xiàn)有的分析方式方法來分析區(qū)間電流的波動(dòng)，判斷老化測(cè)試是否正常。

五、老化失效判斷：

如果在老化測(cè)試過程中出現(xiàn)異常情況，例如電流值超過預(yù)設(shè)閾值或電流波動(dòng)過大等，則判斷為老化失效。此時(shí)，對(duì)應(yīng)LED指示燈閃爍指示，并記錄該主板的老化測(cè)試時(shí)長(zhǎng)等信息。