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SJ/T 11528-2015《信息技術(shù) 移動存儲 存儲卡通用規(guī)范》是中國電子行業(yè)的一項標(biāo)準(zhǔn)，它規(guī)定了移動存儲設(shè)備中存儲卡的通用規(guī)范。該標(biāo)準(zhǔn)主要涉及存儲卡的基本術(shù)語、要求、試驗方法、質(zhì)量評定程序、標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸和貯存等方面的內(nèi)容。
一、范圍：
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了存儲卡的基本術(shù)語、要求、試驗方法、質(zhì)量評定程序、標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸和貯存。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于存儲卡的生產(chǎn)和檢驗。
二、試驗項目：
高低溫試驗、濕熱試驗、鹽霧試驗、跌落試驗、壓力試驗等。
三、試驗設(shè)備：
恒溫恒濕試驗箱、鹽霧試驗箱、跌落試驗機(jī)、拉力試驗機(jī)等。
四、文檔獲取：
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.jpg "《SJ/T 11528-2015 信息技術(shù) 移動存儲 存儲卡通用規(guī)范》標(biāo)準(zhǔn)(圖1)")
五、試驗程序（部分）：
鹽霧試驗
按GB/T 2423.17“試驗Ka”進(jìn)行。受試樣品應(yīng)進(jìn)行初始檢測，在35℃不超過3%鹽含量的鹽水中放置24 h，溶液PH值調(diào)整到6.5~7.2內(nèi)，試驗后將受試樣品進(jìn)行沖洗干燥，恢復(fù)時間為2h，然后檢查存儲卡的損壞情況，并對受試樣品進(jìn)行外觀和結(jié)構(gòu)的檢查及寫入速度和存儲容量測試。
跌落試驗
按GB/T 2423.8“試驗 Ed”進(jìn)行。受試樣品應(yīng)進(jìn)行初始檢測，將不帶包裝的產(chǎn)品按本標(biāo)準(zhǔn)表2的規(guī)定值進(jìn)行跌落試驗，每個面向下跌落10次。試驗后檢查存儲卡的損壞情況，并對受試樣品進(jìn)行外觀和結(jié)構(gòu)的檢查及寫入速度和存儲容量測試。
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