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PCIE M.2老化測試板


PCIE M.2老化測試板一拖八，專業用于NVME盤常溫到高溫帶電測試。
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產品詳情

PCIE M.2老化測試板一拖八，專業用于NVME盤常溫到高溫帶電測試。

功能介紹
測試產品通道數量8 Port
接口M.2,NVME,U.2,U.3,AIC
測試項目常溫到高溫帶電測試

供電電壓DC12V
環境溫度-10 ~ 80（誤差+/-2%）
可擴展測試項目監控每通道電壓，電流
監控每通道產品功耗
時鐘延時
復位測試


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