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整車高原海拔氣候倉的應(yīng)用
2024-11-05
高原海拔氣候環(huán)境首先為低氣壓環(huán)境，其次會(huì)受到雨雪、高低溫等方面的影響。因此，汽車整車在高原環(huán)境比在平原會(huì)惡劣很多，所以，我們需要使用整車高原海拔氣候倉來模擬高原…
Flash/eMMC存儲(chǔ)熱沖擊試驗(yàn)機(jī)的技術(shù)要求
2024-11-05
隨著電子產(chǎn)品的廣泛應(yīng)用，尤其是在移動(dòng)通信、計(jì)算機(jī)、智能家居等領(lǐng)域，閃存芯片（如NAND Flash）在數(shù)據(jù)存儲(chǔ)中的重要性日益增加。為了確保這些閃存芯片在極端環(huán)境…
高低溫沖擊試驗(yàn)箱
存儲(chǔ)芯片高低溫?zé)釠_擊設(shè)備的測試要求
2024-11-05
在存儲(chǔ)芯片的生產(chǎn)制造過程中，需要進(jìn)行各種可靠性試驗(yàn)，其中高低溫沖擊試驗(yàn)就是一項(xiàng)重要的測試項(xiàng)目，下面，我們結(jié)合實(shí)際測試要求，來看看存儲(chǔ)芯片的高低溫?zé)釠_擊試驗(yàn)是怎么…
高低溫沖擊試驗(yàn)箱
閃存芯片高低溫沖擊試驗(yàn)箱
2024-11-05
閃存芯片高低溫沖擊試驗(yàn)箱主要檢查材料是否能承受快速的溫度變化。有些轉(zhuǎn)變?nèi)鐝母邷氐降蜏兀缓螅瑥牡蜏氐礁邷亍＿@些突然的變化會(huì)導(dǎo)致應(yīng)力和損壞，如裂縫或斷裂，要目標(biāo)是…
高低溫沖擊試驗(yàn)箱
高低溫高度試驗(yàn)箱的實(shí)驗(yàn)?zāi)康?/div>
2024-11-04
我們?nèi)粘Ｉ钤谡４髿猸h(huán)境下，產(chǎn)品的故障率會(huì)比高海拔地區(qū)的故障率低。為了檢測高海拔地區(qū)產(chǎn)品的故障率，我們需要用到高低溫高度試驗(yàn)箱（高低溫低氣壓試驗(yàn)箱），通過多產(chǎn)…
整車環(huán)境艙含陽光模擬系統(tǒng)及迎面風(fēng)冷卻系統(tǒng)
2024-11-04
整車環(huán)境艙是用于汽車整車性能測試的設(shè)備，其包含多種系統(tǒng)和功能以模擬真實(shí)的行駛環(huán)境。其中，陽光模擬系統(tǒng)是用于模擬陽光照射的設(shè)備，可以控制光照強(qiáng)度、光照角度等參數(shù)，…
Flash器件高低溫擦寫性能試驗(yàn)箱的測試方法
2024-11-04
為了研究FLASH芯片的壞區(qū)增長與擦寫次數(shù)為怎樣的關(guān)系，目前尚未有實(shí)際實(shí)物參照數(shù)據(jù)。下面使用Flash器件高低溫擦寫性能試驗(yàn)箱，通過FLASH芯片壽命試驗(yàn)，在地…
高低溫試驗(yàn)箱
NAND Flash高低溫篩選試驗(yàn)機(jī)在Flash的溫變規(guī)律研究
2024-11-04
為了研究Flash存儲(chǔ)器在不同溫度下的性能變化的機(jī)理和溫變規(guī)律，評估其空間應(yīng)用的可行性，為Flash器件在空間型號任務(wù)的應(yīng)用提供試驗(yàn)依據(jù)和改進(jìn)建議。在溫變規(guī)律研…
高低溫試驗(yàn)箱
Flash高低溫試驗(yàn)箱
2024-11-04
Flash高低溫試驗(yàn)箱可用于研究Flash存儲(chǔ)器在不同溫度下的性能變化的機(jī)理和溫變規(guī)律，評估其空間應(yīng)用的可行性，為Flash器件在空間型號任務(wù)的應(yīng)用提供試驗(yàn)依據(jù)…
高低溫試驗(yàn)箱
整車環(huán)境艙含陽光模擬系統(tǒng)及迎面風(fēng)冷卻系統(tǒng)的構(gòu)成
2024-11-02
整車環(huán)境艙含陽光模擬系統(tǒng)及迎面風(fēng)冷卻系統(tǒng)，用于整車開發(fā)測試的環(huán)境模擬，包括溫度、濕度、光照、迎面冷卻風(fēng)速的模擬。整個(gè)系統(tǒng)以陽光模擬系統(tǒng)和迎面冷風(fēng)系統(tǒng)為主，結(jié)合整…
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