光電模塊是一個整體集合，其中包含許多電子元器件，其中以LED最為重要，是光電模塊工作的核心器件。光電模塊在高溫下進(jìn)行加速壽命試驗必須確定一系列的參數(shù)，包括(但不限于)：試驗持續(xù)時間、樣本數(shù)量、試驗?zāi)康摹⒁蟮闹眯哦取⑿枨蟮木取①M用、加速因子、外場H環(huán)境H、試驗環(huán)境、加速因子計算、威布爾分布斜率或β參數(shù)(β＜1表示早期故障，β＞1表示耗損故障)。

下面，我們來看看光電模塊的高溫存儲壽命試驗。

光電模塊高溫存儲壽命性能測試：

試驗設(shè)備：環(huán)儀儀器 高溫儲存壽命實驗箱

確定加速因子：

1、現(xiàn)有模型，現(xiàn)有模型有：Arrhenius模型、Coffin2Manson模型和Norris2Lanzberg模型等，使用現(xiàn)有模型比用試驗方法來確定加速因子節(jié)省時間，并且所需樣本少，但不是很精確，且模型變量的賦值較復(fù)雜；

2、通過試驗確定的模型(需要大量試驗樣本和時間)，若沒有合適的加速模型，就需要通過試驗導(dǎo)出加速因子，先將樣本分成3個應(yīng)力級別：高應(yīng)力、中應(yīng)力、低應(yīng)力，定試驗計劃確保在每一個應(yīng)力級別上產(chǎn)生相同的失效機理，這是確定加速因子較精確的方法，但需要較長的時間和較多樣本。

測試過程：

1.采用總線多路復(fù)用器接收內(nèi)部測試板的輸出信號，總線多路復(fù)用器是一種綜合系統(tǒng)，通常包含一定數(shù)目的數(shù)據(jù)輸入，n個地址輸入，以二進(jìn)制形式選擇一種數(shù)據(jù)輸入，總線多路復(fù)用器有一個單獨的輸出，與選擇的數(shù)據(jù)輸入值相同，用于中等密度的自動化測試系統(tǒng)。

2.在自動測試系統(tǒng)中配合臺式數(shù)字萬用表、信號發(fā)生器等各種測試儀器，實現(xiàn)在計算機控制系統(tǒng)中的自動化測試，擴展儀器測試通道，DSP接收到內(nèi)部測試板輸出的發(fā)送光功率、接收光功率、溫度、SFP工作溫度、SFP工作電流這五個信號，并對這五個信號進(jìn)行處理，由串口轉(zhuǎn)換器輸出。

3.直接對整個光電模塊進(jìn)行加溫實驗，采集光電模塊的5個關(guān)鍵參數(shù)在溫度變化下的采樣數(shù)據(jù)，對采樣數(shù)據(jù)利用阿倫尼斯模型進(jìn)行計算，從而評估光電模塊在正常情況下的壽命；避免了以LED的壽命來作為光電模塊壽命的不準(zhǔn)確性，且不需要剝離出LED即可進(jìn)行測試，方便實驗的成規(guī)模應(yīng)用；

以上就是光電模塊高溫存儲壽命性能測試講解，如對試驗有疑問，可以咨詢環(huán)儀儀器相關(guān)技術(shù)人員。