存儲產品的高溫老化就是通過讓存儲產品進行高溫的工作，測試其讀寫是否正常，來評價存儲產品的老化性能以及使用壽命。試驗過程可以使用高溫存儲老化測試箱，下面我來看看是如何測試的。
半導體存儲產品老化測試：
試驗設備：環儀儀器 高溫存儲老化測試箱
測試原理：模擬在高溫或低溫的環境下，通過輔助控制軟件發指令，向存儲類產品做讀寫和比對測試，確認存儲產品在嚴苛的外部環境是否可以正常運作。
測試步驟：
步驟一：將樣品組裝在高溫存儲老化測試箱內。
步驟二：通過控制器，對高溫存儲老化測試箱進行定時的升溫、降溫、恒溫控制；
步驟三：對高溫存儲老化測試箱在不同的環境溫度下發出指令，使存儲產品做讀或寫的指令，直至此測試項目完成，并回報后，服務器再發出下一個指令，并進行下一個項目的測試；
步驟四：通過編輯產出報告格式，自動回填各測試項目數據，通過對測試數據做邏輯判斷，自動判斷結果是PASS或是NG。
以上老化試驗需要多臺高溫存儲老化測試箱并搭配多臺測試機，才能完成存儲類產品在不同的高溫環境下做讀寫測試（高溫的溫度范圍是35℃~85℃，恒溫的溫度是10~20℃。）
如有高溫存儲老化測試箱的使用疑問，可以咨詢環儀儀器相關技術人員。
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