eMMC高低溫試驗箱是一款專門針對eMMC、UFS、eMCP等顆粒存儲芯片進行高低溫老化的設備。設備采用可程式系統控制，能夠同時支持大批量芯片同步老化測試，腔體可在產生高溫（低溫）的同時確保溫度精準。
技術參數：
性能特點：
1：溫度精準，產品周邊溫度穩定控制在±3℃內
2：升降溫速度快
3：可同時針對大批量芯片進行老化測試
4：測試座獨立可拔插替換式，方便更換與維護
5：預留MES 系統對接接口
6：更換不同 socket board 即可兼容生產 eMCP/eMCP/ePOP 產品
7：單顆DUT 獨立電源設計，保護產品
技術特點：
1.eMMC高低溫試驗箱具有并測數高、寬溫度范圍、測試速率高等特點，可通過更換老化板支持多種芯片的測試。支持的溫度范圍為-40℃到150℃，芯片供電電壓寬范圍可調，支持NAND/UFS/eMMC等多種芯片的老化測試，根據芯片需求不同測試速率從200Mbps~11.6Gbps。
2.eMMC高低溫試驗箱采用創新性的chamber設計，提供DUT極致的溫度均勻性；可將Final Test和Burn In測試集成到一個測試系統中，提供高低溫、高速、全功能的綜合系統測試解決方案。
配套軟件：
eMMC高低溫試驗箱配套軟件包括PGM編輯器、Burn-in UI、診斷校準工具等，其功能強大且易于使用的圖形環境可讓工程師快速開發全功能測試程序，從而縮短程序開發和調試時間。針對復雜的多插槽控制難題，Burn-in UI支持每個插槽運行相同或不同的模式，降低測試成本。
如有eMMC高低溫試驗箱的選型疑問，可以咨詢環儀儀器相關技術人員。
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