eMMC存儲芯片高低溫老化箱可對eMMC（EmbeddedMulti Media Card，嵌入式多媒體卡）、SSD（Solid State Disk，固態硬盤）、UFS（UniveralFlash Storage，通用閃存存儲器）等存儲芯片的兼容性能進行檢測。在不同存儲芯片適配終端產品的PCB（Printed Circuit Board，印制電路板）時，可在不同的環境條件下，快速高效的篩選出兼容性能良好的存儲芯片。
下面，我們結合實際情況，看看如何對eMMC存儲做高低溫老化測試。
eMMC存儲高低溫老化測試方法：
試驗設備：環儀儀器 eMMC存儲芯片高低溫老化箱
測試內容：高低溫循環存儲、高低溫循環工作
工作模式示意圖：
試驗步驟：
高低溫循環存儲試驗
1、6 套球泡燈在溫箱內僅存儲并不上電工作，開啟并設置eMMC存儲芯片高低溫老化箱工作于指定溫度（-40/-20/0/25/60/85/105/125）℃循環模式；
2、6 套球泡燈在溫度循環環境下持續存放 72 小時后取出，并在常溫下通過 BLE 配網加入無線路由器 AP，進而連接云，并在智能控燈 APP 上添加設備成功；
3、1 小時內隨意查詢 6 套球泡燈連云狀態，并調整顏色，開關燈等操作。
高低溫循環工作試驗
1、6 套球泡燈在溫箱內上電工作，開啟并設置eMMC存儲芯片高低溫老化箱工作于指定溫度（-40/-20/0/25/60/85/105）℃循環模式；
2、6 套球泡燈在溫度循環環境下持續工作 168 小時，期間反復嘗試 BLE配網加入無線路由器 AP，進而連接云，并在智能控燈 APP 上添加設備成功；
3、168 小時內隨意查詢 6 套球泡燈連云狀態，并調整顏色，開關燈等操作。
如對以上試驗有疑問，可以咨詢環儀儀器相關技術人員。
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