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固態硬盤高低溫循環試驗箱的試驗實例

文章出處 : 技術知識 文章編輯 : 環儀儀器 閱讀量 : 發表時間 : 2024-11-06

為了測試SSD固態硬盤的“軟件讀寫性能測試”,在測試過程中,需要使用高低溫循環試驗箱和常溫存放H2test校驗測試,為了讓大家了解固態硬盤的高低溫讀寫性能,接下來我們為大家講述該方法的主要過程。

SSD固態硬盤高低溫讀寫性能:

試驗設備:環儀儀器 固態硬盤高低溫循環試驗箱

固態硬盤高低溫循環試驗箱的試驗實例(圖1)

測試軟件:BurnInTest、H2test

測試環境:高溫75℃/低溫-10℃

固態硬盤高低溫循環試驗箱的試驗實例(圖2)

測試樣品:某品牌SSD固態硬盤

測試過程:

測試開始前,設置程序,先升溫到75℃,持續12小時,然后逐漸降溫至-10℃,持續12小時,共經歷3次循環,合計72小時。經過72小時的高低溫循環后,PassMark BurnInTest的判定通過。

固態硬盤高低溫循環試驗箱的試驗實例(圖3)

說明SSD在72小時的高溫和低溫的循環下,能夠進行正常的滿載傳輸,按照電腦正常滿載運作,CPU溫度達到60℃時會出現卡頓現象,但能夠在75℃高溫或者-10℃低溫下穩定進行滿載工作。

此外,為了檢測產品內部是否有產生壞塊,用來專業檢測固態硬盤壞塊的軟件H2testw進行常溫下48小時滿盤寫入+校驗,目的這是為了檢測在如此苛刻條件下,硬盤是否會產生壞塊的情況。


以上就是固態硬盤的高低溫循環試驗過程,如對試驗有疑問,可以咨詢環儀儀器相關技術人員。

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