固態硬盤的讀寫掉電測試一般都是在同一溫度（低溫或者高溫）下進行的，主要檢測產品貯存和使用的適用性。NVMe固態硬盤內部擔任儲存數據的重要組件是NAND閃存，影響NAND閃存的數據保存，除了擦寫次數，工作溫度也可以直接對固態硬盤的速度和數據保存造成影響。下面，我們來了解一下固態硬盤的高低溫擦寫試驗。
固態硬盤的高低溫擦寫試驗：
試驗設備：環儀儀器 SSD高低溫交變試驗機
試驗樣品：固態硬盤
運行環境：Linux系統。Linux系統工具需要配置安裝，如mke2fs、fdisk、mount、SMART(Self Monitoring Analysis and Reporting Technology)等。
試驗過程：
步驟1、通過硬盤檢測工具SMART(Self Monitoring Analysis and Reporting Technology)進行檢測，測試結果顯示通過，則說明固態硬盤健康狀態良好，如果顯示不良，則表示固態硬盤出現異常狀況。
步驟2、在高溫的溫度范圍為35~125℃下，往被測NVMe固態硬盤中寫入預設數據；
步驟3、在通電的狀態下靜置一段時間；
步驟4、靜置后進行掉電測試；
步驟5、檢查被測NVMe固態硬盤的健康狀態是否良好，如果良好，則執行步驟6，否則結束測試；
步驟6、在-40~0℃下，對被測NVMe固態硬盤執行讀取比對操作；讀取比對操作包括：首先順序讀出已寫入的數據，并與預設數據進行比較；然后隨機選擇一個預設數據的隨機地址并在此地址讀數據塊，再到已寫入的數據中找到其所在的位置，進行讀比對。
步驟7、在通電的狀態下靜置一段時間；
步驟8、檢查被測NVMe固態硬盤的健康狀態是否良好，如果良好，則執行步驟9，否則結束測試；
步驟9、生產測試結果，完成測試。
通過以上高低溫擦寫測試，一方面是模擬客戶在極端環境下，來檢測產品的穩定性和數據安全性能；另一方面能夠為產品迅速找出極限點，并從所提供的詳細測試報告中改善產品弱點。
入有SSD固態硬盤的試驗疑問，可以咨詢環儀儀器相關技術人員。
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