YD/T 2152-2010《光纖活動連接器可靠性要求及試驗方法》是一項中華人民共和國通信行業標準，規定了光纖活動連接器的可靠性要求和相應的試驗方法。
一、范圍：
本標準規定了光纖活動連接器可靠性要求的相關術語和定義、分類、試驗項目、產品的壽命試驗項目要求、結構及材料的可靠性試驗項目要求等，并規定了各項可靠性要求的試驗條件、試驗方法及評定標準。
本標準適用于所有類型和型號的光纖活動連接器。
二、試驗項目：
高低溫試驗、溫度循環試驗、加濕溫度循環試驗、振動試驗、碰撞試驗、鹽霧試驗等。
三、試驗設備：
恒溫恒濕試驗箱、鹽霧試驗機、振動試驗機、碰撞試驗臺等。
四、文檔獲取：
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.jpg "《YD/T 2152-2010 光纖活動連接器可靠性要求及試驗方法》標準(圖1)")
五、試驗程序（部分）：
高溫老化
a)試驗條件
溫度:+85℃;
持續時間:168h;
普通要求不需要在線記錄測試數據，加嚴要求在間隔時間點記錄測試數據。
b）程序
1）普通要求
將試樣置于精度為±2℃的可恒溫的烘箱里，溫度85℃，保持恒溫168h。試驗結束后，以規定的速率將溫度降至室溫，停留2h后，測試并記錄插入損耗和回波損耗。
2）加嚴要求
將試樣置于精度為±2℃的可恒溫的烘箱里,在試樣的兩端分別接入光源和光功率計，如圖3所示。以規定的時間升溫，直至+85℃，保持恒溫168h。加嚴要求恒溫時間可依據產品使用要求，試驗時間可延長至500h、1000h和2000h。試驗結束后，以規定的速率將溫度降至室溫，停留2h后，測試并記錄插入損耗和回波損耗。
c）試驗后，樣品不得有機械損傷，如變形、龜裂、松弛等現象，參數變化量應符合5.3.7節要求。
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